Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, buffer layers, template layers, IBAD process, substrate metallic, fabrication, critical current, critical caracteristics
Goyal A., Paranthaman M.P., Cantoni C., Martin P.M., Christen H.M., Sathyamurthy S.(sathyamurths@ornl.gov), Zhai H-Y, Kung S.
Goyal A., Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Leonard K.J., Sathyamurthy S., Kang S., Vallet C.E., Zhai H.Y., Christen H.M.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.